半導體測試協會(STC)宣稱，新的開發測試設備(ATE)外圍接口標準的公開活動已經取得了重大進展。這個半導體測試接口擴展(STIX)公開活動據說可以解決ATE不斷增加的成本和效率挑戰。 
　 STIX公開活動同時包含開放式硬件和軟件規范。STIX公開活動的關鍵在于新技術、新產業驅動的工作機構的不斷成立以從事這些外圍領域的工作，這些領域是在戰略上創建的，旨在吸引更多針對測試的評論意見。 
　 新的工作機構將加入一些已經側重于硬件擴展塢、探針卡、標準測試接口語言(STIL)和合作的產業大學研究項目的STC工作機構。 
　 對于STC而言，這仍然是一個費力的工作。多年來，ATE的公司已經單獨開發了各種專有測試裝置，但是這種模式的問題在于總測試成本最近出現了暴增。 
　 作為響應，Advantest、Intel等公司在2002年也有所作為，成立了STC。STC的目標是為ATE制造一個“開放架構”，這將會實現測試裝置的“即插即用”第三方模塊的開發。在做這些工作的同時，STC希望降低不斷上漲的IC測試成本。